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ae-mic/AE-162E 用于超高速芯片電阻測試特征?

更新時間:2023-12-06      瀏覽次數:237

AE-162E 用于超高速芯片電阻測試

非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、

徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機。

兼容極小芯片(低功耗測量)

超高速0.7msec.(典型值)

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性

通過每個量程的測量值積分時間設置功能,實現超高速和高穩定性測量。

%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查:測量前/測量后/關閉可選

RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)

打印機輸出標準設備(Centronics兼容)

標準設置值傳輸功能:(相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。)

標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路

兼容極小芯片(低功耗測量)

超高速0.7msec.(典型值)

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性

通過每個量程的測量值積分時間設置功能,實現超高速和高穩定性測量。

%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查:測量前/測量后/關閉可選

RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)

打印機輸出標準設備(Centronics兼容)

標準設置值傳輸功能:(相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。)

標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路


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