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產品分類AE-162E 用于超高速芯片電阻測試
非常適合 D、F、G、J、K 級、片式、MELF、
徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機。
兼容極小芯片(低功耗測量)
超高速0.7msec.(典型值)
熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性
通過每個量程的測量值積分時間設置功能,實現超高速和高穩定性測量。
%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查:測量前/測量后/關閉可選
RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)
打印機輸出標準設備(Centronics兼容)
標準設置值傳輸功能:(相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。)
標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路
兼容極小芯片(低功耗測量)
超高速0.7msec.(典型值)
熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩定性
通過每個量程的測量值積分時間設置功能,實現超高速和高穩定性測量。
%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查:測量前/測量后/關閉可選
RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)
打印機輸出標準設備(Centronics兼容)
標準設置值傳輸功能:(相同的設置數據可以傳輸到另一臺AE-162E以進行自動設置。)
標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路