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更新時間：2024-01-30 
瀏覽次數：228HPGe
由于 QC 實驗室的樣品量非常小，我們選擇了高純度鍺 (HPGe) 阱探測器，該探測器可提供高效率，因為樣品實際上被有源探測器材料包圍。
孔檢測器采用盲孔制造，在孔底部留下至少 15 mm 的有源檢測器厚度，并接近 4π 計數幾何形狀。
端蓋中的井插入件由鋁制成，側壁厚度為 0.5 毫米，底部厚度為 1 毫米。與 0.5 mm 的鋁相比，探測器元件上的離子注入觸點薄到可以忽略不計，因此這些探測器本質上具有良好的低能量響應，允許光譜低至 20 keV。
由于鍺具有相對較低的帶隙，因此必須冷卻這些探測器以減少載流子的熱生成。
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