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產品分類日本optex LED感應環照明OPR系列 邁向自動控制亮度的照明。 -產品陣容從外徑尺寸 φ32mm 到 φ85mm -配備“FALUX傳感”可實現亮度監控和反饋控制 -通過使用附加鏡頭,可以將照射角度切換為 3 種模式。 -實現增加的光強度和均勻的照度分布
更新時間:2024-08-28kett電磁式測厚儀LE-373 LE-373は磁性金屬上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)や 塗裝などの非磁性被膜厚を測定する膜厚計です。LH-373は 非磁性金屬上の絶縁被膜厚を測定する膜厚計
更新時間:2024-07-08日本jtekt滾珠軸承Clean Pro - RB 特點/概述:即使在260℃的高溫環境下也能實現低發塵、低排氣 這是捷太格特潔凈環境軸承“Clean Pro®系列”的高溫環境型。通過在軸承的滾動面涂上耐熱含氟聚合物涂層,可以在比 Clean Pro Bearing(傳統產品)更高的溫度下使用。
更新時間:2024-08-29kett薄膜測厚儀L-500 ンタ內蔵型の膜厚計です、500は-膜厚計L 測定物や測定箇所に現場での使い勝手を研究し 両手を空、付屬のストラップを使用することで、また。しました 検査室等の機上で使用する際にも畫面。けることができます 。本體表示面に傾斜を付け
更新時間:2024-07-08日本nms超純水過氧化氫監測儀 NOXiEMON® 特征 -使用簡單的測量原理 N-Lite® DEP將 H 2 O 2分解為 O 2,??并使用 DO 計測量生成的 O 2 。 -無需化學品, 由于不使用添加劑,因此維護很容易。 -超純水的理想選擇使用 N-Lite® DEP,可以在沒有任何干擾物質的情況下測量 TOC-UV 產生的2 O 2 。
更新時間:2024-08-29日本rundum半導體再結晶碳化硅復合片 PARUCOCERAM RE 采用高純度SiC原料的再結晶碳化硅成型體。可在真空和惰性氣體氣氛下高溫使用。它還用于耐熱部件,如化合物半導體熱處理部件、窯爐部件和加熱器,以及利用其多孔特性的過濾器。 規格 產品名稱:PARUCOCERAM RE 材料:再結晶碳化硅(高純) 主要用途:化合物半導體熱處理部件、耐熱結構材料、燒成夾具
更新時間:2024-08-28日本horiba雙通道電阻率計HE-960RW-GC(W) HE-960RW-GC(W) 是一款可以同步測量的雙通道碳傳感器電阻率計,可連接兩個傳感器。測量范圍為:0 - 100.0 MΩ?cm。同步測量兩個不同位置的電阻率輸出時保持高性能和高精度。測量在一個簡單的轉換器中進行,以獲得整體的成本效益。
更新時間:2024-08-28日本horiba微量 pH計 UP-100 HORIBA 采用新型超微毛細管電極對其pH 測量技術進行二次研發。HORIBA 的 UP-100 系列提供僅 500 uL/單次測量的超低樣品消耗,支持對包括半導體(清洗、刻蝕和電鍍)、化學制造、生物、制藥、食品加工等在內的各種關鍵制程進行連續的 pH 監控。設計連續運行時間 6 個月,無需操作人員干預,有效的減少停機時間
更新時間:2024-08-28日本horiba光纖型化學藥液濃度計 CS-600F CS-600F 提供適合生產的更高級功能,如在各種應用中對高溫化學藥液進行在線測量的能力,減少停機時間的穩定運行,以及提高空間生產率的緊湊尺寸,以滿足先進半導體濕法制程所需的準確化學藥液濃度管理。
更新時間:2024-08-28日本horiba光纖型高溫磷酸濃度計 CS-620F 在 3D NAND 制程中,沉積幾十層二氧化硅和氮化硅,并使用高溫磷酸選擇性地刻蝕氮化硅層。在該制程中,通過控制化學藥液的濃度和溫度,可以獲得期望的刻蝕速率。成熟型號很難測量高溫化學藥液,但 CS-620F 能夠在高達 170℃ 的高溫下進行測量。使用吸收光譜進行連續測量,與其他方法相比,需要的維護和耗材更少。
更新時間:2024-08-28